Взаимосвязь параметров электронного микроскопа и характеристик изображения
Методы структурного анализа материалов
Взаимосвязь параметров и задач исследования в электронном микроскопе
| Управляющий параметр | Разрешение | Соотношение сигнал/шум | Глубина резкости | Объяснение |
|---|---|---|---|---|
| Ускоряющее напряжение | ✅ | ✅ | ✅ | При увеличении ускоряющего напряжения электроны имеют меньшую длину волны → выше разрешение. Более жёсткий пучок сильнее проникает в материал → увеличивается сигнал и глубина резкости. |
| Рабочее расстояние (WD) | ✅ | Увеличение WD повышает глубину резкости, но снижает разрешение и контраст, поэтому положительная зависимость только с глубиной резкости. | ||
| Ток пучка | ✅ | Чем больше ток пучка, тем больше число электронов за единицу времени → сильнее сигнал и выше соотношение сигнал/шум. | ||
| Размер диафрагмы (апертура) | ✅ | Большая апертура пропускает больше электронов → возрастает интенсивность сигнала и соотношение сигнал/шум, но снижается разрешение и глубина резкости. |
✅ — положительная взаимосвязь: при увеличении параметра растёт соответствующий показатель.
Краткие выводы
- Высокое ускоряющее напряжение улучшает все три показателя, но может вызывать зарядку и артефакты на непроводящих образцах.
- Увеличение рабочего расстояния полезно для глубины резкости, но ухудшает детализацию.
- Большой ток пучка и широкая апертура повышают сигнал и контраст, однако снижают разрешение.
⚙️ Оптимальные настройки всегда выбирают в зависимости от задачи — разрешение, контраст или глубина резкости редко могут быть максимальными одновременно.